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1. 电感及电压尖脉冲（voltage spike）的产生原因1.1 什么是电感电感是闭合回路的一种属性，即当通过闭合回路的电流改变时，会出现电动势来抵抗电流的改变。产生的电动势可以用如下的公式来表征：其中，v 为电动势，单位为伏特；L 为电感，单位为亨利；I 为电流，单位为安培；t 为时间，单位为秒。1.2电压尖脉冲是如何产生的当使用供电线将POWERTESTER 的加热电流端和待测器件的对应管脚连接起来形成闭合回路后，就会在该闭合回路中形成寄生电感。在热阻测试或功率循环测试过程中，当关闭加热电流时，加热电流会迅速变为0。因此dI/dt会很大，进而产生巨大的电压尖脉冲，该脉冲会攻击测试系统中的脆弱部分，包括POWERTESTER 设备和待测器件自身，将其破坏。假设加热电流为 100A，POWERTESTER 系统在 1us 的时间内将其关闭为0A，而系统的寄生电感为 1uH。那么dI/dt = 100A/us，此时就会产生V= 100A/1us ∗ 1uH = −100V的电压尖脉冲。2. 如何降低电压尖脉冲（voltage spike）根据公式可知，要有效地降低电压尖脉冲，可以采取两个措施：降低闭合回路的寄生电感和延缓加热电流关断的过程。2.1降低闭合回路的寄生电感降低闭合回路的寄生电感可以通过如下两个手段：（1）减少导线的长度；（2）减少闭合回路的面积，即尽量使正极供电导线和负极供电导线挨在一起；下图所示是两种不同的闭合回路的电感与导线长度的关系，如图所示，在相同的导线长度下，选择将正极导线和负极导线并排摆放，会大大地降低闭合回路的电感。（来源：https://www.eeweb.com/tools/loop-inductance/）因此在使用POWERTESTER测试器件时，建议客户采取如下措施：（1）尽量减少供电导线的长度以降低回路的寄生电感；（2）尽可能地使得正极供电导线和负极供电导线并排挨在一起以降低回路的寄生电感。（3）测试导线尽量远离供电导线以降低测试过程中的噪声，提高测试信噪比。一种推荐的接线方法如下图所示:2.2 延缓加热电流关断的过程（注：需要POWERTESTER的控制软件为V2021.1或以后的版本才支持该功能）在使用饱和模式测试MOSFET器件（尤其是SiC MOSFET器件）时，如果栅极电压在加热电流完全变为零之前就已经切换了，就会产生比较大的电压尖脉冲。因此强烈推荐客户使用如下图所示的Gate voltage delay功能，同时设置合适的栅压延迟时间也可以缩短electric transient的时间。客户必须要注意的是，当接收到系统的触发信号后，系统有一个本征的16~20us的延迟时间。因此即使客户在Gate voltage delay功能中选择0，栅压也会在16~20us后切换。当客户在Gate voltage delay功能中选择64us，则真实的栅极电压切换时间为20+64us。‍‍